<dd id="bf54f"></dd> | 產(chǎn)品參數(shù) | |
|---|---|
| 產(chǎn)品價格 | 電議 |
| 發(fā)貨期限 | 電議 |
| 供貨總量 | 電議 |
| 運費說明 | 電議 |
| 品牌 | CMA及CNAS |
| 服務(wù)目標(biāo) | 短期一次性取證 |
| 咨詢方式 | 現(xiàn)場+遠(yuǎn)程 |
| 咨詢地區(qū) | 全國 |
| 咨詢范圍 | CMA及CNAS指導(dǎo) |
| 范圍 | CNAS實驗室認(rèn)可CNAS認(rèn)可供應(yīng)范圍覆蓋浙江省、杭州市、寧波市、溫州市、臺州市、金華市、湖州市、紹興市、舟山市、嘉興市、衢州市、麗水市 定海區(qū)、岱山縣、嵊泗縣等區(qū)域。 |
CNAS認(rèn)可咨詢 2018-11-22
產(chǎn)品必須符合EMC(電磁兼容)要求，歐洲規(guī)定：銷售違反電磁兼容法令(89/336/EEC)的產(chǎn)品將面臨高額罰款，因此，商家越來越重視產(chǎn)品的電磁兼容性問題，為了降低成本，要根據(jù)公司需求和規(guī)模的不同，組建一個EMC實驗室，本文介紹建設(shè)公司內(nèi)部EMC測試設(shè)備的優(yōu)點、缺點和方法。
組建一個電磁兼容實驗室的小需求取決于公司的需要和財務(wù)狀況。通常，公司將力求節(jié)省經(jīng)費(在設(shè)備和人力資源兩方面)，并盡量降低風(fēng)險。但有一點必須明白，世界上不會有“低成本、低風(fēng)險和低EMC技術(shù)”這樣的好事。工程師必須掌握高度的技巧，才可能設(shè)計出具有相當(dāng)性能的低成本設(shè)備。精度越低的產(chǎn)品，其風(fēng)險也會越高。
在組建一個公司內(nèi)部EMC實驗室時，無論其規(guī)模大小如何，都必須遵從一些起碼的指導(dǎo)原則。首先，建成EMC實驗室的房間或地方必須潔凈，沒有無關(guān)物品，完全專用于EMC測量。只要條件許可， 需要一個由金屬制成并可靠連接大地的地參考平面;如果條件不允許(如房間不在 層)，至少應(yīng)該接保護地系統(tǒng)。實驗室內(nèi)的所有金屬物體必須可靠接地或予以。電源系統(tǒng)必須“凈化”(在電源進入EMC實驗室之前的某處正確接入線濾波器)。
EMC測試設(shè)備的配置
1)傳導(dǎo)發(fā)射測試---需要一臺頻譜分析儀(或EMI接收器)、電纜和LISN(線阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)，手工制作或外購)，如果可能的話，還應(yīng)該有一個屏蔽房間(起碼有一個屏蔽帳篷)和一張距地面80cm的絕緣桌。
2)輻射發(fā)射測試---需要同樣的頻譜分析儀或EMI接收器、一副天線、電纜和OATS(開放區(qū)域測試場地或(半)電波暗室);為測量干擾功率而制作或外購的吸收鉗。
3)諧波測試(與閃爍測試)---如果要進行完全兼容測試，則需要專用設(shè)備(專用諧波分析儀);但如果僅為評估的話，一臺便攜式諧波分析儀甚至一臺能進行FFT評估的示波器就足夠了。
4)ESD(靜電釋放)抗擾度測試---只有ESD槍才能可靠評估該項測試的結(jié)果。
5)輻射電磁場抗擾度測試---需要與輻射發(fā)射測試類似的設(shè)備，此外還需要號發(fā)生器、放大器、衰減器、場強儀，可能還需要一臺計算機。
6)傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試---需要的設(shè)備與1)和5)類似，另外再加上CND(異種耦合解耦網(wǎng)絡(luò))，但不需要天線。
7)電快速瞬變(EFT/Burst)抗擾度測試。
8)浪涌抗擾度測試。
9)電源頻率磁場抗擾度測試。
10)電壓驟降、短時中斷與電壓變化抗擾度測試。
從7)到10)的 四項測試需要專用設(shè)備，這些設(shè)備可從多個廠商買到。
值得注意的是，測量設(shè)備的制造商和經(jīng)銷商通常提供執(zhí)行不同測試的包裝和(或)全套裝置，以及有關(guān)如何按照 標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行這些測試的指導(dǎo)甚至培訓(xùn)。請向近的當(dāng)?shù)劁N售代表查詢設(shè)備的性能和功用。大部分情況下，設(shè)備都有根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)需求預(yù)設(shè)的測試程序，請首先閱讀說明手冊。
內(nèi)部預(yù)兼容測試
預(yù)兼容測試并無定義，但起碼我們有理由假定測試必須在盡可能接近標(biāo)準(zhǔn)要求的條件下進行。
1)傳導(dǎo)發(fā)射的測試
多年來，電子產(chǎn)品制造商遇到的困難的問題可能就是在傳導(dǎo)發(fā)射方面，因此本文首先就此進行討論。
這個裝置是根據(jù)CISPR22(EN55022)組建的，而且使用的設(shè)備必須符合CISPR16-1的要求。該裝置主要包括：EUT(被測設(shè)備)，如果它是臺式的，必須安放在一個距地面80cm高的絕緣桌上;輔助設(shè)備(外設(shè))，按正常使用方式連接，未使用的輸入和輸出必須正確端接，多余的電纜必須截短，或繞成直徑30~40cm的一卷。
2）頻譜分析儀(或EMI接收器)
在0.15~30MHz的頻率范圍內(nèi)必須具有9kHz的分辨率帶寬(RBW)。測量過程在CISPR16-1和產(chǎn)品規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)中有詳細(xì)描述，如果正確執(zhí)行，其結(jié)果與第三方實驗室的測試將
3)諧波和閃爍測試
諧波和閃爍測試沒有環(huán)境方面的要求。只需將EUT連接到諧波分析儀的電源入口，并根據(jù)廠商的說明和標(biāo)準(zhǔn)的要求執(zhí)行測試即可。同樣，測試設(shè)備將包含一些已有的設(shè)置，但工程師必須確保這些測試設(shè)置符合自己產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)要求。如果評估時使用其他方法(如便攜式電源諧波分析儀)，請仔細(xì)閱讀標(biāo)準(zhǔn)要求，然后再評估測量結(jié)果。
4)ESD抗擾度測試
ESD抗擾度測試對于大型設(shè)備可能并不是很重要。但在今天這個各種產(chǎn)品普遍小型化的時代，ESD測試已成為大部分設(shè)備的“關(guān)鍵”EMC測試之一，例如對便攜式計算器、MP3和MD播放器、USB存儲棒、音頻設(shè)備等等。
EUT仍然安放在一張絕緣桌上，位于HCP(水平耦合平面，由一種金屬傳導(dǎo)材料制成)上，并通過一個絕緣抗靜電襯墊與其隔離。VCP(垂直耦合平面)和HCP分別連接到地參考平面，每個連接端各使用一只470kΩ的電阻。對于EUT的每個側(cè)面和VCP、HCP，以及EUT上每個用手能觸摸到的金屬表面，分別使用鋒利 進行接觸放電(直接放電)，通常每個極性5次。對于機箱的所有塑料部分，則利用圓形 進行空氣放電(間接放電)。
5)輻射電磁場抗擾度的測試
輻射電磁場抗擾度的測試裝置與輻射發(fā)射測試非常類似，但是在這項測試中，號發(fā)生器和功率放大器將饋送給天線，以便在EUT附近產(chǎn)生“均勻電磁場”(±6dB)(在頻率范圍80~1000VSPACE=12HSPACE=12ALT="磁場探針、電場探針和一根管腳探針的實例。">MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度下為3V/m或10V/m)。需要注意的是，不同產(chǎn)品的頻率范圍也不相同。
6)傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試
傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試的目的是在EUT端口輸入建立3V電平(有效值，150kHz~230MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度)。號發(fā)生器和功率放大器必須提供足夠的功率，以便CDN能將號耦合到被測線。由于測試項目3)、7)、8)、9)、10)使用的是高度專業(yè)化的設(shè)備，如果實驗室中有這些設(shè)備，工程師無需太多操作，只要正確連接EUT就可以了，重要的任務(wù)是監(jiān)控EUT的工作方式。
如何進行近場測試
本文前面的介紹部分講過，近場測試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段。在這個階段，標(biāo)準(zhǔn)測試方法或許能給出的結(jié)果，但卻無法顯示問題的來源所在。在挑選元件時，有些控制器芯片的輻射要比其他芯片低40dB，或具有更高的抗擾度。即使在產(chǎn)品開發(fā)完成，執(zhí)行兼容測試未通過之后，標(biāo)準(zhǔn)測試方法也幾乎無法給出有關(guān)問題來源的任何息。在印制板一級，工程師們使用近場測試探針進行測量，也可能使用缺陷檢測器等。
然而另一方面也必須了解，近場測試探針(幾乎)不能給出有關(guān)設(shè)備傳導(dǎo)或輻射水平的任何息，其誤差為20～40dB。但近場測試探針可以保證一點：每次使用時，其測量結(jié)果總要好于前述的各種測量。為了通過近場測試探針大致了解產(chǎn)品是否能通過EMC測試，需要在已經(jīng)確知結(jié)果的樣品上進行多次嘗試。
一些磁場探針、電場探針和一根管腳探針的例子。它們的優(yōu)點是容易制作，外購也相當(dāng)便宜。它們都使用50Ω的電纜，并連接到一臺(廉價的)頻譜分析儀。
近場探針用來拾取電磁場的全部兩個分量。雖然市場上有一些非常靈敏的電磁場場強儀，但電磁場的近場場強并不太容易測量。它們無法給出輻射噪聲頻率成分的任何息，但可以方便地指出“問題分量”。近場探針在連接到頻譜分析儀時，還可給出頻率成分息。
磁場探針提供一個與磁射頻(RF)場強成比例的輸出電壓。利用這個探針很容易找到電路的射頻源。不過，磁場的場強隨距離迅速變化(成三次方關(guān)系)。另外，探針的方向至關(guān)重要，因為磁場方向一定是垂直于磁環(huán)路的。前面已經(jīng)指出，探針將不會給出太多的量化息，但對于某個元件(IC、開關(guān)三極管等)，隨著探針距離元件越來越近，探針的電壓輸出也將增大。
即使周圍有許多元件，通過研究原理圖，設(shè)計者也可以很容易地辨認(rèn)出噪聲源。如果工程師決定更換元件，他將很容易測量出更換后的結(jié)果，這使得在開始時就選擇可靠的元件成為可能。VSPACE=12HSPACE=12ALT="圖4(a)和(b)：磁場探針、電場探針和一根管腳探針的實例。
管腳探針允許直接在IC管腳或PCB的細(xì)導(dǎo)線上鑒別噪聲電壓。還能方便地判斷濾波器的效果，盡管只是一種定性的判斷。管腳探針可以在濾波器的前、后分別進行接觸測量，并觀察其效果情況。但工程師必須正確估計接觸電容，并選擇電容較小的探針(不大于10pF)。
電場探針可拾取共模電壓和需要的號。共模電壓是輻射電壓的一個重要來源。此外，磁場探針無法拾取電場。可以證明，使用全部三種探針是有益和省時的。
本文介紹了擁有公司內(nèi)部EMC測試設(shè)備的優(yōu)點和缺點?？傮w而言，除了設(shè)備成本、占用空間，以及可能的人員培訓(xùn)這些投入之外，擁有EMC能力并沒有什么不利。無論如何，EMC技術(shù)在產(chǎn)品開發(fā)中必不可少，公司必須以某種方式進行這方面的投資(如依靠第三方咨詢公司的服務(wù))，忽視它的代價將是高昂的
CMA資質(zhì)認(rèn)定、CNAS實驗室認(rèn)可咨詢指導(dǎo)！
答：由于簽發(fā)報告在本部，因此附表1不用分開描述。但試驗地點不同，附表2必須分開描述。
89. 實驗室評審報告附表2中檢測對象序號及項目/參數(shù)序號填寫問題。評審過程中，實驗室申請的一些檢測對象或項目/參數(shù)常會因不具備認(rèn)可條件而不予認(rèn)可而刪除，從而導(dǎo)致實驗室申請書附表2-1與實驗室評審報告附表2的二種序號存在差異，本人也沒發(fā)現(xiàn)CNAS相關(guān)文件中對此有具體的處理規(guī)定說明。希望本次會議明確一下在出現(xiàn)此種情況時，實驗室評審報告附表2的序號及其相應(yīng)內(nèi)容的填寫方法。
答：各按各的序號填寫。申請書附表2-1與實驗室評審報告附表2的序號有可能不一致。
90. 在評審中有擴項，但是領(lǐng)域沒有變化，授權(quán)簽字人的考核時是否按照擴大領(lǐng)域考核，附表1認(rèn)可的實驗室授權(quán)簽字人的備注欄如何填寫，尤其是監(jiān)督評審時，是否需要提供附表1。
答：有擴項，授權(quán)簽字人的授權(quán)范圍就有可能變化，因此“備注”欄可填寫“授權(quán)范圍變化”。監(jiān)督評審時，如授權(quán)簽字人及授權(quán)范圍沒有變化可不填寫附表1。
CMA計量認(rèn)證 CNAS實驗室認(rèn)可 咨詢指導(dǎo)！
海納德管理咨詢(舟山市分公司)是一個集研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)、銷售等一體的專業(yè) CNAS人員條件公司，質(zhì)量保證,價格優(yōu)惠。公司擁有專業(yè)的研發(fā)設(shè)計能力,精心研究、精致設(shè)計、精細(xì)制作，力求方便客戶管理的思索，研發(fā)出各類近百個品種規(guī)格的 CNAS人員條件，適合于多種需求，為客戶創(chuàng)造了良好的經(jīng)濟效益。從選料、生產(chǎn)到成品檢驗，公司對質(zhì)量進行嚴(yán)格的控制,直至終端 CNAS人員條件產(chǎn)品合格，以好的 CNAS人員條件產(chǎn)品出產(chǎn),對售出產(chǎn)品進行跟蹤服務(wù)，及時解決售后，服務(wù)客戶。
1． 關(guān)于量值溯源CMA計量認(rèn)證 CNAS實驗室認(rèn)可 咨詢指導(dǎo)！
實驗室對溯源結(jié)論為“合格”的檢定，是否需要確認(rèn)？
答：需要確認(rèn)。因為儀器設(shè)備檢定合格，但不一定能夠滿足檢測/校準(zhǔn)的需要。
2． 經(jīng)過CNAS認(rèn)可的檢測實驗室出具的“測試/檢測”報告、校準(zhǔn)實驗室出具的“測量”，均不可用于儀器溯源嗎？
答：不可以用于儀器溯源。因為檢測和校準(zhǔn)不同，檢測是使用儀器設(shè)備按照相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)進行，校準(zhǔn)是使用能夠溯源至 基準(zhǔn)的工作標(biāo)準(zhǔn)，依據(jù)相關(guān)校準(zhǔn)規(guī)范進行。校準(zhǔn)對環(huán)境設(shè)施、設(shè)備等的要求往往要比檢測嚴(yán)格。校準(zhǔn)實驗室一般在沒有校準(zhǔn)規(guī)范的情況下才會出具“測量”，這種情況不在CNAS的認(rèn)可范圍內(nèi)，所以不能滿足量值溯源的要求。
3． 法定機構(gòu)依據(jù)校準(zhǔn)規(guī)范出具的校準(zhǔn)可否承認(rèn)。
答：如果該實驗室未獲得認(rèn)可，則不承認(rèn)其量值溯源性。
4． 按照J(rèn)JF1069考核取得的法定計量檢定機構(gòu)（如各省計量院）校準(zhǔn)能力授權(quán)出具校準(zhǔn)，如何處理？（注：上述能力尚未獲得CNAS認(rèn)可）
答：不承認(rèn)其量值溯源性。
5． 按照J(rèn)JF1033計量標(biāo)準(zhǔn)考核規(guī)范要求，部分JJF校準(zhǔn)規(guī)范只允許出具校準(zhǔn)，承認(rèn)嗎？（注：上述能力尚未獲得CNAS認(rèn)可）
答：不承認(rèn)其量值溯源性。
6． 監(jiān)督評審中發(fā)現(xiàn)檢測實驗室新添置的進口設(shè)備使用供應(yīng)商提供的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行溯源，而供應(yīng)商和實驗室不能提供標(biāo)物溯源至“CNAS承認(rèn)BIPM（國際計量局）框架下，簽署MRA（互認(rèn)協(xié)議）并能證明可溯源至SI國際單位制的 計量基（標(biāo)）準(zhǔn)或經(jīng)濟體的參考標(biāo)準(zhǔn)”（CNAS-CL06:2011 4.1.3）,實驗室強調(diào)類似情況在國內(nèi)其他認(rèn)可實驗室普遍存在，如何處理?
答：如果是行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，是可以承認(rèn)的。
7． 在息、軟件測試實驗室中，使用進口測試儀器比例較高，且更新?lián)Q代十分快，特別是網(wǎng)絡(luò)性能測試（從10兆、百兆、千兆到10萬兆，如思博倫公司的SmartBit6000B、）、軟件效率測試（并發(fā)數(shù)量，如惠普公司的LoadRunner）等，這些進口設(shè)備（軟件）沒有可以校準(zhǔn)的機構(gòu)，通常所能做的只能是實驗室間的比對，行業(yè)內(nèi)也沒有要求不確定度。請問，在實驗室評審中該如何評價其量值溯源和不確定度？
答：此種情況允許實驗室僅做功能核查。關(guān)于不確定度的要求具體參見相關(guān)應(yīng)用說明。
在評審中對于難以溯源的項目如何掌握？ CNAS實驗室認(rèn)可
